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应力筛选冷热冲击试验箱

  应力筛选恒温恒湿箱

  应力筛选型冷热冲击试验箱为了仿真不同电子构件,在实际使用环境中遭遇的温度条件,改变环境温差范围及急促升降温度改变,可以提供更为严格测试环境,缩短测试时间,降低测试费用,但是必须要注意可能对材料测试造成额外的影响,产生非使用状态的破坏试验。(需把握在失败机制依然未受影响的条件下)RAMP试验条件标示为:Temperature Cycling 或Temperature Cycling Test也就是温度循环(可控制斜率的温度冲击)。
 

应力筛选冷热冲击试验箱技术特点

 
1、可执行AMP(等均温变)、三箱冲击(TC)、两箱冲击(TS)、高温储存、低温储存功能
 
2、等均温速率可设定范围5℃~30℃(40℃)
 
3、满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求
 
4、采用美国Sporlan公司新型PWM冷控制技术实现低温节能运行
 
5、除霜周期三天除霜一次,每次只需1小时完成
 
6、通信配置RS232接口和USB储存曲线下载功能
 
7、感测器放置测试区出(回)风口符合实验有效性
 
8、机台多处报警监测,配置无线远程报警功能
 

应力筛选冷热冲击试验箱应用标准

 
1.GB/T 10589-1989低温试验箱技术条件
 
2.GB/T 11158-1989 高温试验箱技术条件
 
3.GB/T 10592-1989 高低温试验箱技术条件
 
4.GB/T 2423.1-2001 试验A:低温试验方法
 
5.GB/T 2423.2-2001试验B:高温试验方法 
 
6.GB/T 2423.22-2002试验N:温度变化试验方法
 
7.GJB150.3-1986高温试验
 
8.GJB150.4-1986低温试验
 
满足无铅制程、无铅焊锡、锡须(晶须)、DELL D4559、MOTO、IEC-60068-2-14NB、JESC22-A14C、IPC-9701...等试验要求

产品&规范

厂商名称

高温

低温

温变率

循环数

循环时间

备注

MIL-STD-2164、GJB-1032-90
电子产品应力筛选

——

工作极限温度

工作极限温度

5℃/min

10~12

3h20min

——

MIL-344A-4-16
电子设备环境应力筛选

设备或系统

71℃

-54℃

5℃/min

10

—— ——

MIL-2164A-19
电子设备环境应力筛选方法

——

工作极限温度

工作极限温度

10℃/min

10

——

驻留时间为内部达到指定温度10℃时

NABMAT-9492
美军海军制造筛选

设备或系统

55℃

-53℃

15℃/min

10

——

驻留时间为内部达到指定温度5℃时

GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南

组件

85℃

-55℃

15℃/min

≧25

——

达到温度稳定的时间

GJB/Z34-5.1.6
电子产品定量环境应力筛选指南

设备或系统

70℃

-55℃

5℃/min

≧10

——

达到温度稳定的时间

笔记本电脑

主板厂商

85℃

-40℃

15℃/min

—— —— ——
 

应力筛选冷热冲击试验箱技术参数

 

Models

BYR-A

BYR-B

BYR-C

BYR-D

Inside Dimensions
W x D x H cm

40X35X35

50X50X40

60X50X50

70X60X60

Outside Dimensions
W x D x H cm

140X165X165

150X200X175

160X225X185

170X260X193

Precool/Preheat Range

-00.00℃~-75.00℃/+60.00℃~+200.00℃
Shocking Range -10.00℃~-65.00℃/+60.00℃~+150.00℃

Time Range

0 hour 1 min ~ 9999 hour 59 min/segment

Resolution

0.01℃/min

Temperature Uniformity ±3.00℃以内(under℃3.00℃)
Range of temperature variation(℃/min) +5℃~+30℃/min(+40℃)

(Three boxes)range of box brushing

-65℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃)

(Two boxes)range of box brushing

-55℃~+150℃ ±2.00℃以内(under ±2.00℃)
 

应力筛选冷热冲击试验箱温度可控制速率列表

 

TSR(斜率可控制)
[5℃30 ℃/min]
 

 

 

30℃/min→

电子原件焊锡可靠度、PWB的嵌入电阻&电容温度循环 MOTOROLA压力传感器温度循环试验

28℃/min→

LED汽车照明灯

25℃/min→

PCB的产品合格试验、测试Sn-Ag焊剂在PCB疲劳效应

24℃/min→

光纤连接头

20℃/min→

IPC-9701 、覆晶技术的极端温度测试、GS-12-120、飞弹电路板温度循环试验 PCB暴露在外界影响的ESS 测试方法、DELL计算机系统&端子、改进导通孔系统信号 比较IC包装的热量循环和SnPb焊接、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命

 

17℃/min→

MOTO

15℃/min→

IEC 60749-25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶显示器 电子组件温度循环测试(家电、计算机、通讯、民用航空器、工业及交通工具、 汽车引擎盖下环境)

11℃/min→

无铅CSP产品温度循环测试、芯片级封装可靠度试验(WLCSP) 、IC包装和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A

10℃/min→

通用汽车、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-条件1 、温度循环斜率对焊锡的疲劳寿命、 IBM-FR4板温度循环测试

5℃/min→

锡须温度循环试验

 

 

 

应力筛选冷热冲击试验箱选型示意图

BYR选型

 

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