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PCT饱和加速寿命试验机-IC电子行业专用

 

PCT饱和加速寿命试验机

                                                                    PCT饱和加速寿命试验机

  

PCT饱和加速寿命试验机 IC电子行业专用)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。PCT最主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体。

 

  PCT饱和加速寿命试验机设备特点

 

◆真空泵浦设计(锅炉内空气抽出)提高压力稳定性、再现性

◆超长效实验运转时间,长时间实验机台运转300小时

◆tank干燥设计,试验终止采真空干燥设计确保测试区(待测品)的干燥

◆水位保护,透过炉内水位Sensor检知保护

◆tank耐压设计,箱体耐压力(140℃)2.65kg,符合水压测试6k

◆二段式压力安全保护装置,采两段式结合控制器与机械式压力保护装置

◆安全保护排压钮,警急安全装置二段式自动排压钮

 

  PCT饱和加速寿命试验机技术参数

 

Models

BYST-S

Inside Dimensions
W x D x H cm

φ22 X 33(L)

Outside Dimensions
W x D x H cm

69X90X63

Inside capacity(Liter)

12

Internal material

Stainless steel#316

External material

SECC

Temperature range

105℃~132℃

HumidityRange

75%~100%/105℃~132℃

Temperature uniformity ℃

±1.0℃

Humidity uniformity %RH

±5%

Temperature stability ℃

±0.3℃

 

 

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